膜厚評価装置の導入のお知らせ

 弊社ではディップコート後の膜厚測定サービスについて、従来より多くのご要望を頂いておりました。

今回弊社では、反射率分光法(光干渉方式)による膜厚測定サービスを開始いたします。

反射率分光法は、非接触の光学式膜厚測定法の一種で、光による膜からの反射を測定することにより薄膜の特性を測定します。

光学式膜厚測定方法は、その他にエリプソメーターを用いたものがありますが、それに比べ容易に使用する事が可能です。

特にハードコーティングの評価に適しており、今後曲面ワークに対するアタッチメントなども充足してまいります。

TFW-100一式3

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